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使用50Ω实验室设备测试75Ω电路的
哈尔滨永源家具有限公司   2012-06-28 03:58:26 作者:SystemMaster 来源: 文字大小:[][][]
对大多数低于1GHz的实验室应用来说,由1%误差0402或者类似的电阻构建、安装在PCB板上的**小损耗焊盘提供一种使用50实验室设备快速便利地测试75电路的方法。在大多数情况下,****需要修正的因素便是MLP插入损耗 - 5.7dB加上连接器的额外损耗。通常S参数的测试不需要使用复杂的计算或者甚至Smith圆图。

从事有线、陆地或者卫星电视应用的射频工程师经常需要测量电路的S参数。以前工程师使用矢量网络分析仪校验TV调谐器输入是否提供他们所希望的回波损耗,将会面对这样的问题:如何使用50 VNA测试我的75 DUT的S参数?如果有充足的资金,答案便是建造专门设计用于测试75电路的设备(75源阻抗和负载阻抗测试端口)。否则,使用**小损耗焊盘将传统的50测试端口阻抗转换成75 DUT,这为获得合理的测试结果提供了一种经济便利的解决方法。
当IC制造商给出电缆TV LNA的回波损耗(|S11|)时,这个测试结果是以75作为参考的。也即,如果|S11| = -30dB (反射功率仅为1000分之一,实际上是相当完美的匹配),当用75源阻抗驱动时,事实上器件输出会允许所有功率传输到LNA上。
当使用50源阻抗驱动时同样的调谐器不再获得良好的回波损耗。将这完美匹配调谐器输入直接连接到VNA上,|S11|测试结果接近-14dB,现在的反射功率为1/25! 使用同样50 VNA,我们怎么能证明TV调谐器输入性能如我们所说的那样良好。
因此需要匹配电路。它应当具有平坦的频率响应和****的插入损耗。工业标准的匹配电路是“**小损耗焊盘”(也即“MLP”)。如图1所示的简单电阻网络。该网络的关键性能便是将75 DUT负载阻抗转换成50以便仪器测量,以及将50仪器源阻抗转换成DUT内部的75阻抗。这种方法****了反射,响应是平坦的,网络的损耗值很容易由DUT测量值扣除MLP的损耗而得到。大部分测试设备制造商都提供“**小损耗焊盘”,在需要的时候很容易在实验室平台上构建这样的网络。
“**小损耗”指在获得同样的阻抗变换及可能的电阻网络配置的条件下该网络提供****的插入损耗。

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